멘토, 지멘스 비즈니스는 자사의 Tessent SiliconInsight 제품에 ATE-Connect 기술을 사용함으로써 IC 디버깅 및 브링업 성능을 향상시킬 수 있게 되었다고 발표했다.

ATE-Connect 기술로 구현되는 업계 표준 인터페이스는 특정 테스터용의 독점적인 소프트웨어와 DFT 플랫폼 간의 통신 장벽을 없애 준다.

이 신기술은 IJTAG 디바이스의 디버깅 속도를 높이고, 제품 생산속도를 높일 수 있도록 지원하며, 5G 무선통신, 자율주행 및 인공지능 분야 제품의 출시 시기를 앞당긴다.

멘토는 또한 테라다인의 UltraFLEX 테스트 솔루션이 PortBridge기술을 통해 새로운 멘토 인터페이스를 전폭적으로 지원한다고 밝혔다.

업계에서 IJTAG 테스트 아키텍처가 칩 수준의 테스트에 널리 채택되고 있음에도 불구하고, 많은 기업들이 칩 수준의 테스트 패턴을 테스터 포맷으로 변환하는 데 있어서는 물론 자동 테스트 장비에서의 테스트 디버깅에 있어서도 매우 상이한 접근 방법을 유지하고 있다.

이 때문에 각각의 특정 칩마다 DFT 엔지니어가 테스트 패턴을 작성한 뒤 이를 테스트 엔지니어가 변환하여 각 테스터 유형에 대한 각각의 시나리오를 디버깅 해야만 한다.

테스트 엔지니어는 대개 하위 레벨의 세부적인 수준에서 클럭 사이클을 이용해 작업하는 반면, DFT 엔지니어는 보다 상위 레벨에서 IJTAG을 이용해 작업한다.

이들이 사용하는 툴과 기법 간의 차이는 칩을 가장 효율적으로 디버깅하는 방법에 대해 혼란을 가져와 IC 제품의 수명주기에 커다란 지연을 초래할 수 있다.

멘토 ATE-Connect 기술은 TCP/IP 네트워크 프로토콜을 이용해IJTAG 명령을 테스트 대상 디바이스에 제공하고 ATE 상의 디바이스로부터 데이터를 받는다.

그러는 한편으로는 보안에 민감한 설계 정보를 Tessent SiliconInsight 툴의 영역에 유지해 두면서 필요한 스티뮬러스만을 ATE 상의 테스트 대상 디바이스에 제공한다.

고객들은 이 표준 네트워크 통신을 통해 자신들의 기존 보안 네트워크를 이용함으로써 전세계의 테스터들과 매끄럽게 상호작용할 수 있다.